Modélisation et caractérisation électriques de composants pour le solaire

Intro, enjeux contexte

L’identification et la détection de défauts

L’amélioration des systèmes photovoltaïques est indispensable pour le monde économique. Cette amélioration passe par la mise en place dans les systèmes de supervision de systèmes de détection, localisation et d’identification des défauts. L’analyse de la signature électrique représente l’une des approches les plus efficace pour la détection de défauts et cela de manière non intrusive et pouvant se dérouler en temps réel.

Au laboratoire nous cherchons à développer une technique permettant de détecter et d’identifier en temps réel les défauts sur la totalité d’une installation photovoltaïque ou pour des zones particulières.

Traceur I-V

Pour cela notre stratégie consiste à développer, dans une premier temps, un système de mesure électrique permettant d’obtenir la caractéristique I-V d’une installation PV (traceur I-V).

Traceur I-V de 4kW à base de transistor MOSFET utilisé en résistance linéaire variable.
Mesure I-V sur panneau vs modélisation

Modélisation de système PV

Caractérisation et modélisation et localisation des défauts

Modèle de simulation de défaut sur un module
Modélisation électrique d’un module photovoltaïque sous PLECS
  • A. BENZAGMOUT, T. MARTIRE, G. BEAUFILS, O. FRUCHIER, T. TALBERT et D. GACHON, «Measurement of the I(V) curve characteristics of photovoltaic arrays by the capacitive load method for fault detection,» International Conference on Industrial Technology 2018, Lyon, 2018. 
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  • A. BENZAGMOUT, A. ZAHER, T. TALBERT, O. FRUCHIER, D. GACHON et T. MARTIRE, «Identification et détection de défauts dans les installations photovoltaïque,» Journée nationale du photovoltaïque, Dourdans, 2017. 

Voir aussi dans «Thématiques»

Gestion de systèmes électriques